德國布魯克半導(dǎo)體分析光譜儀

簡要描述：CryoSAS是布魯克光譜公司生產(chǎn)的專門用于硅材料分析的一體化的低溫檢測系統(tǒng)。 Z多可一次安放九個(gè)樣品，優(yōu)化設(shè)計(jì)的光譜儀能夠同時(shí)檢測 III、V族摻雜元素（如硼、磷等淺雜質(zhì)態(tài)）在單晶硅中的硅中取代碳,間隙氧含量的測定等.
半導(dǎo)體行業(yè)檢測設(shè)備。

產(chǎn)品型號(hào)：CryoSAS
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時(shí)間：2016-09-18
訪問量：4232

產(chǎn)品咨詢聯(lián)系我們

產(chǎn)品分類

德國布魯克

核磁共振譜儀傅立葉變換近紅外光譜儀火花直讀光譜儀便攜式直讀光譜儀進(jìn)口紅外制樣附件近紅外光譜儀紅外光譜儀查看全部產(chǎn)品

相關(guān)文章

詳細(xì)介紹

品牌	Bruker/布魯克

•半導(dǎo)體分析光譜儀CryoSAS

CryoSAS是布魯克光譜公司生產(chǎn)的專門用于硅材料分析的一體化的低溫檢測系統(tǒng)。
CryoSAS*地將高性能的布魯克FT-IR光譜技術(shù)與現(xiàn)代化與方便實(shí)用的低溫閉循環(huán)致冷系統(tǒng)結(jié)合在一起，擺脫了通常進(jìn)行高靈敏度檢測時(shí)對(duì)液氦的依賴。CryoSAS的全部組件都采用了*的一體化和人性化的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)理念，使得這樣的系統(tǒng)能夠適應(yīng)硅材料生產(chǎn)中的不同使用環(huán)境。

CryoSAS系統(tǒng)的主要指標(biāo)為：
光譜范圍：1500-280cm-1
半導(dǎo)體分析可安裝九個(gè)樣品的樣品架,樣品的尺寸：zui多可一次安放九個(gè)樣品，樣品的尺寸為：直徑或邊長為10mm的圓形或方形樣品，厚度為2.5~5mm
光譜分辯率：0.5cm-1
優(yōu)化設(shè)計(jì)的光譜儀能夠同時(shí)檢測 III、V族摻雜元素(如硼、磷等淺雜質(zhì)態(tài))在單晶硅中的硅中取代碳,間隙氧含量的測定等。

產(chǎn)品咨詢